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半導體hast老化試驗箱

更新時(shí)間:2024-03-21

半導體hast老化試驗箱熊s又稱(chēng)高溫高濕高壓試驗機,廣泛應用于半導體,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

半導體hast老化試驗箱熊s性能:  

1.設定溫度:+100℃~+147℃(蒸氣溫度)  

2.濕度範圍:75~蒸氣濕度(在47℃度時(shí)濕度高為75%)  

3.濕度控制穩定度:±3%RH  

4.使用壓力:1.2~2.89kg(含1atm)  

5.時(shí)間範圍:0Hr~999Hr  

6.加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kg/cm2約45分  

7.溫度波動(dòng)均勻度:±0.5℃  

8.溫度顯示精度:0.1℃  

9.壓力波動(dòng)均勻度:±0.1Kg  

10.濕度分佈均度:±3%RH

試驗箱實(shí)驗條件 

1.設定溫度:+100℃~+135℃(飽和蒸氣溫度)  

2.濕度范圍:75~飽和蒸氣濕度0Kg~3.5Kg/cm2(內桶設計耐壓4Kg/cm  

3.時(shí)間范圍:000Hr~999Hr  

4.加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kg/cm2約45  

5.測試條件:溫度121℃,RH飽和蒸氣,壓力1.04Kg/c㎡  

半導體hast老化試驗箱裝置特點(diǎn)介紹:  

1.裝置內壓力越大的時(shí)候PCT高壓測試儀蒸煮設備箱門(mén)唿吁反壓導致其與箱體更加緊密結合,不同于的傳統擠壓式,可延長(cháng)packing的壽命。  

2.裝置非常好的臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護,在出現異常塬因和故障指示燈都會(huì )顯示,能夠好的避免因為異常導致?lián)p失,甚至導致今天損壞。  

3.裝置采用的是自動(dòng)門(mén)禁,們的自動(dòng)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制有這安全門(mén)把設計已申請在箱內中若出現大于常壓時(shí),測試門(mén)會(huì )被保護。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong>半導體hast老化試驗箱</strong></strong></strong></strong></strong></strong>    

試驗箱用途:

半導體hast老化試驗箱又稱(chēng)高溫高濕高壓試驗機,廣泛應用于半導體,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

艾思荔作為環(huán)境試驗設備的企業(yè)之一,承擔著(zhù)保證市場(chǎng)正常有序發(fā)展和為眾多企業(yè)服務(wù)的責任,必須提供產(chǎn)品來(lái)維護“艾思荔”形象。更多艾思荔檢測儀器半導體hast老化試驗箱相關(guān)詳情請:

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